更新時(shí)間：2025-12-17
小型高低溫試驗(yàn)箱用來(lái)考核和確定電工、電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化，產(chǎn)品表面產(chǎn)生高溫或低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性。設(shè)備采用強(qiáng)迫空氣循環(huán)來(lái)保持工作室內(nèi)溫度的均勻性。為限制輻射影響，設(shè)備內(nèi)壁各部分溫度與試驗(yàn)規(guī)定的溫度之差不大于8%，且試驗(yàn)樣品不會(huì)受到設(shè)備內(nèi)加熱與冷卻元件的直接輻射。
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小型高低溫試驗(yàn)箱用來(lái)考核和確定電工、電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化，產(chǎn)品表面產(chǎn)生高溫或低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性。設(shè)備采用強(qiáng)迫空氣循環(huán)來(lái)保持工作室內(nèi)溫度的均勻性。為限制輻射影響，設(shè)備內(nèi)壁各部分溫度與試驗(yàn)規(guī)定的溫度之差不大于8%，且試驗(yàn)樣品不會(huì)受到設(shè)備內(nèi)加熱與冷卻元件的直接輻射。
該產(chǎn)品滿(mǎn)足G82423.22—87Nb，GB2423．34—86，GJBl50.9-86等國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，以及其它相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求。嚴(yán)格按GB 10592--89小型高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件進(jìn)行設(shè)計(jì)制造，并可按軍標(biāo)試驗(yàn)要求GJB150.3-86，GJB150.4-86，及非標(biāo)準(zhǔn)制作各種高低溫環(huán)境試驗(yàn)。
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